納米粒度儀zeta電位分析儀專門用于表征納米顆粒懸浮液。它基于重新審視的現(xiàn)代版激光多普勒電泳(LDE)技術(shù)，提供測量分辨率。它是Cordouan的VASCO粒度分析儀的補(bǔ)充，用于研究膠體溶液的穩(wěn)定性和性質(zhì)。新產(chǎn)品由新型的光學(xué)系統(tǒng)、電泳池、數(shù)據(jù)采樣和數(shù)據(jù)處理等部分組成，實現(xiàn)了由PC個人微機(jī)對采樣模塊的控制及后期數(shù)據(jù)處理的一體化設(shè)計，與其它同類產(chǎn)品相比，它具有更多的優(yōu)異性能。通過測定粉體的Zeta電位，從pH-Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點，是認(rèn)識粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。
 

　　納米粒度儀zeta電位分析儀注意事項：
 

　　1、若要進(jìn)行酸堿滴定測等電點或測PH值，則每次實驗前須校正PH探針；若要測試溶液電導(dǎo)率，則須校正電導(dǎo)率。主探頭可每周校正一次；
 

　　2、每次更換樣品物需清洗主探頭、PH探針以及容器，要擦干，以免前面殘留粉末影向?qū)嶒灲Y(jié)果；
 

　　3、實驗結(jié)東后要清洗主探頭、PH琛針和容器，并將PH探針放回酸性沖液中；
 

　　4、若進(jìn)行酸碔滴定則每次關(guān)機(jī)前需將酸堿滴定管凊洗3～5次。
 

　　納米粒度儀zeta電位分析儀應(yīng)用：
 

　　半導(dǎo)體：研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。
 

　　醫(yī)藥和食品行業(yè)：乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品)，蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究(微囊)。
 

　　陶瓷和顏料工業(yè)：表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無機(jī)溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。
 

　　聚合物和化工領(lǐng)域：乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制(藥品和工業(yè)用途)。電解聚合物(聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等)功能研究，控制造紙和生產(chǎn)紙漿過程研究，紙漿添加劑研究。